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 2006/03/08
微小領域を照らす近接場の分布を広範囲に精度よく測定―下山研究室

 知能機械情報学専攻の下山勲 教授のグループは、生物の神経回路などの微小領域を観察する近接場(光)について、これまでより広範囲で精度よく測定する装置を開発した。近接場を作る微小な穴周辺の強度分布を数μm単位のステップで測定することができる。2006年1月22日から26日にトルコのイスタンブールで開催された「The 19th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems」 (MEMS 2006)で同研究室の菅哲朗氏(博士3年)が発表した。

(日経BP社産学連携事務局 ライター 齋藤淳)

下山・星野・松本研究室

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